(2) 嵌套循环
��不能将简单循环的测试方法简单地扩大到嵌套循环,因为可能的测试数目将随嵌套层次的增加呈几何倍数增长。这可能导致一个天文数字的测试数目。下面给出一种有助于减少测试数目的测试方法。
�� 除最内层循环外,从最内层循环开始,置所有其它层的循环为最小值;
�� 对最内层循环做简单循环的全部测试。测试时保持所有外层循环的循环变量为最小值。另外,对越界值和非法值做类似的测试。
�� 逐步外推,对其外面一层循环进行测试。测试时保持所有外层循环的循环变量取最小值,所有其它嵌套内层循环的循环变量取"典型"值。
�� 反复进行,直到所有各层循环测试完毕。
�� 对全部各层循环同时取最小循环次数,或者同时取最大循环次数。对于后一种测试,由于测试量太大,需人为指定最大循环次数。
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