2.7.2 多边形内部的反走样 ��多边形的反走样一般采样超采样技术。计算平均光强的常用方法有：均匀平均和加权平均。 ��首先将象素均匀分割成n×n个子象素，即建立n×n的伪分辨率。则每个象素的面积为1/n2。每个子像素的属性由子像素的中心点决定。计算每个子象素对原象素的贡献，并保存在一张二维的加权表中（所有的加权系数之和等于1）。然后计算所有这些子象素对原象素亮度贡献之和的值。该值乘以象素可能的最大亮度值作为该象素的显示亮度值。 例如：图2.14是采用均匀平均的例子，图2.14 a)和b)是将每个像素分为2×2和4×4个子像素的均匀模板。图2.15是加权平均的例子，其中a)是是我们将将每个像素分为3×3和7×7个子像素的权系数模板，其中的数据表示相应子像素的权系数。