2.7.1 直线反走样 一、反走样细直线 ��可以用超采样方法来进行直线反走样。即：将每个像素分成n×n个子像素，然后在子像素级对直线进行光栅化，这样就可以得到每个像素中被激活的子像素的个数。如图2.9所示，粗实线正方形表示物理像素，虚线正方形表示子像素，阴影区域表示被激活的子像素。在n×n伪光栅上，可以光栅化的子像素最多为n个。每个物理像素的光强与其被激活的子像素数与n的比值成正比。假设一个物理像素中被激活的子像素有m个，其可能的最大光强为Imax，则该像素的光强（亮度） （2－7－1） ��, 再取整，即可得到象素的显示灰度值。